Optimierung von IC-Gehäusen durch Modellierung der Zuverlässigkeit unter Einfluß thermisch bedingter Materialermüdung

Marent, KatrienKatrienMarentVandevelde, BartBartVandevelde2021-10-142021-10-142000https://imec-publications.be/handle/20.500.12860/4564Optimierung von IC-Gehäusen durch Modellierung der Zuverlässigkeit unter Einfluß thermisch bedingter MaterialermüdungJournal article