Schmidt, M.M.SchmidtGottlob, H. D. B.H. D. B.GottlobEchermeyer, T.T.EchermeyerWahlbrink, T.T.WahlbrinkMollenhauer, T.T.MollenhauerBaus, M.M.BausBuca, D.M.D.M.BucaMantl, S.S.MantlReiche, M.M.ReicheLoo, RogerRogerLooLemme, M.C.M.C.LemmeKurz, H.H.Kurz2021-10-162021-10-162007https://imec-publications.be/handle/20.500.12860/12855Charge pumping and mobility measurements on strained SOI MOSFETsProceedings paper