Kukner, HalilHalilKuknerWeckx, PieterPieterWeckxRaghavan, PraveenPraveenRaghavanKaczer, BenBenKaczerCatthoor, FranckyFranckyCatthoorVan der Perre, LiesbetLiesbetVan der PerreLauwereins, RudyRudyLauwereinsGroeseneken, GuidoGuidoGroeseneken2021-10-202021-10-202012https://imec-publications.be/handle/20.500.12860/20959Workload-dependent BTI reliability evaluation of CMOS logic gatesOral presentation