van Schaijk, RobRobvan SchaijkVan Duuren, MichielMichielVan DuurenMei, Wan YuetWan YuetMeiVan der Jeugd, KeesKeesVan der JeugdRothschild, AudeAudeRothschildDemand, MarcMarcDemand2021-10-152021-10-152004https://imec-publications.be/handle/20.500.12860/9790Oxide-nitride-oxide layer optimisation for reliable embedded SONOS memoriesJournal article