Metoda dokladnego wyznaczania parametrow polprzewodnika w zastosowaniu do pomiarow czasu zycia nosnikow i koncentracji domieszek / A method of accurate semiconductor parameters determination used for carrier lifetime and dopant concentration measurements

Czerwinski, A.A.CzerwinskiTomaszewski, D.D.TomaszewskiGibki, J.J.GibkiBakowski, A.A.BakowskiSimoen, EddyEddySimoenVanhellemont, JanJanVanhellemont2021-09-302021-09-301997https://imec-publications.be/handle/20.500.12860/1789Metoda dokladnego wyznaczania parametrow polprzewodnika w zastosowaniu do pomiarow czasu zycia nosnikow i koncentracji domieszek / A method of accurate semiconductor parameters determination used for carrier lifetime and dopant concentration measurementsProceedings paper