Witvrouw, AnnAnnWitvrouwBeyer, GeraldGeraldBeyerMaex, KarenKarenMaexTielemans, LucLucTielemans2021-10-012021-10-011998https://imec-publications.be/handle/20.500.12860/3155DESTIN: A new approach to interconnect reliability testingJournal article