Eyraud, C.C.EyraudGeffrin, J.M.J.M.GeffrinFranchois, AnnAnnFranchois2021-10-162021-10-162007-11https://imec-publications.be/handle/20.500.12860/12143Extraction du champ diffracté dans le cas de mesures relatives à des objets faiblement enfouisProceedings paper