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Depth profiling of elastic inhomogeneities in transoarent nanomaterials by picosecond ultrasonic interferometry

Mechri, C; Ruello, P; Breteau, J.M.; Baklanov, Mikhaïl; Verdonck, Patrick; Gusev, V (2009)
Profilométrie des propriétés élastiques des couches minces transporentes par interférométrie acoustique ultrarapide

Mechri, C; Ruello, P; Breteau, J.-M.; Baklanov, Mikhaïl; Verdonck, Patrick; Gusev, V. (2010)