Browsing Presentations by author "Carin, R."
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Identification de niveaux pièges dans les oxydes de transistors MOS par des mesures de bruit basse-fréquence à différentes températures
Routoure, J.M.; Guo, W.; Cretu, B.; Lartigau, I.; Carin, R.; Simoen, Eddy; Mercha, Abdelkarim; Claeys, Cor (2008) -
Meyer-Neldel parameter as a figure of merit for quality of thin-film-transistor active layer?
Pichon, L.; Mercha, Abdelkarim; Routoure, J. M.; Carin, R.; Bonnaud, O.; Mohammed-Brahim, T. (2002)