Publication:

Studie van de Elektrische Eigenschappen van Si/SiO2 Strukturen met een Ultradunne Oxydelaag

Date

 
dc.contributor.authorDepas, Michel
dc.date.accessioned2021-09-29T13:05:47Z
dc.date.available2021-09-29T13:05:47Z
dc.date.issued1995-03
dc.identifier.urihttps://imec-publications.be/handle/20.500.12860/625
dc.title

Studie van de Elektrische Eigenschappen van Si/SiO2 Strukturen met een Ultradunne Oxydelaag

dc.typePHD thesis
dspace.entity.typePublication
Files
Publication available in collections: