Publication:

Metoda dokladnego wyznaczania parametrow polprzewodnika w zastosowaniu do pomiarow czasu zycia nosnikow i koncentracji domieszek / A method of accurate semiconductor parameters determination used for carrier lifetime and dopant concentration measurements

Date

1997
Proceedings Paper
Simple item page Full metadata Statistics
 
dc.contributor.authorCzerwinski, A.
dc.contributor.authorTomaszewski, D.
dc.contributor.authorGibki, J.
dc.contributor.authorBakowski, A.
dc.contributor.authorSimoen, Eddy
dc.contributor.authorVanhellemont, Jan
dc.contributor.imecauthorSimoen, Eddy
dc.contributor.orcidimecSimoen, Eddy::0000-0002-5218-4046
dc.date.accessioned2021-09-30T08:02:40Z
dc.date.available2021-09-30T08:02:40Z
dc.date.embargo9999-12-31
dc.date.issued1997
dc.identifier.urihttps://imec-publications.be/handle/20.500.12860/1789
dc.source.beginpage442
dc.source.conferenceVI Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa - ELTE
dc.source.conferencedate6/05/1997
dc.source.conferencelocationKrynica Poland
dc.source.endpage445
dc.title

Metoda dokladnego wyznaczania parametrow polprzewodnika w zastosowaniu do pomiarow czasu zycia nosnikow i koncentracji domieszek / A method of accurate semiconductor parameters determination used for carrier lifetime and dopant concentration measurements

dc.typeProceedings paper
dspace.entity.typePublication
Files

Original bundle

Name:
1757.pdf
Size:
157.17 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Publication available in collections:
Conference contributions