Authors

Czerwinski, A.; Tomaszewski, D.; Gibki, J.; Bakowski, A.; Simoen, Eddy; Vanhellemont, Jan

Conference

VI Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa - ELTE

Title

Metoda dokladnego wyznaczania parametrow polprzewodnika w zastosowaniu do pomiarow czasu zycia nosnikow i koncentracji domieszek / A method of accurate semiconductor parameters determination used for carrier lifetime and dopant concentration measurements

Publication type

Proceedings paper

Embargo date

9999-12-31