Show simple item record

Metoda dokladnego wyznaczania parametrow polprzewodnika w zastosowaniu do pomiarow czasu zycia nosnikow i koncentracji domieszek / A method of accurate semiconductor parameters determination used for carrier lifetime and dopant concentration measurements

dc.contributor.authorCzerwinski, A.
dc.contributor.authorTomaszewski, D.
dc.contributor.authorGibki, J.
dc.contributor.authorBakowski, A.
dc.contributor.authorSimoen, Eddy
dc.contributor.authorVanhellemont, Jan
dc.date.accessioned2021-09-30T08:02:40Z
dc.date.available2021-09-30T08:02:40Z
dc.date.issued1997
dc.identifier.urihttps://imec-publications.be/handle/20.500.12860/1789
dc.sourceIIOimport
dc.titleMetoda dokladnego wyznaczania parametrow polprzewodnika w zastosowaniu do pomiarow czasu zycia nosnikow i koncentracji domieszek / A method of accurate semiconductor parameters determination used for carrier lifetime and dopant concentration measurements
dc.typeProceedings paper
dc.contributor.imecauthorSimoen, Eddy
dc.contributor.orcidimecSimoen, Eddy::0000-0002-5218-4046
dc.date.embargo9999-12-31
dc.source.peerreviewno
dc.source.beginpage442
dc.source.endpage445
dc.source.conferenceVI Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa - ELTE
dc.source.conferencedate6/05/1997
dc.source.conferencelocationKrynica Poland
imec.availabilityPublished - open access


Files in this item

Thumbnail
Name:
1757.pdf
Size:
157.1Kb
Format:
PDF
View/open

This item appears in the following collection(s)

Show simple item record