Browsing by author "Stocco, Antonio"

Degradation mechanisms in AlGaN/GaN HEMTs submitted to off and on-state stress conditions

Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo; Stocco, Antonio; Marcon, Denis; Bertin, Marco; Silvestri, Riccardo; Ferretti, Marco; Rampazzo, Fabiana; Meneghesso, Gaudenzio (2012)

Degradation of AlGaN/GaN HEMTs below the "critical voltage": a time-dependent analysis

Meneghini, Matteo; Stocco, Antonio; Bertin, M; Marcon, Denis; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico (2012)

Degradation of AlGaN/GaN Schottky diodes on silicon: Role of defects at the AlGaNGaN interface

Meneghini, Matteo; Bertin, Marco; Stocco, Antonio; dal Santo, Gabriele; Marcon, Denis; Malinowski, Pawel; Chini, Alessandro; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico (2013)

Electroluminescence analysis of time-dependent reverse-bias degradation of HEMTs: a complete model

Meneghini, Matteo; Stocco, Antonio; Bertini, Marco; Ronchi, Nicolò; Chini, Alessandro; Marcon, Denis; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico (2011)

Study of time-dependent degradation of reverse biased AlGaN/GaN HEMTs

Stocco, Antonio; Meneghini, Matteo; Bertin,; Marcon, Denis; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico (2012)

Time-dependent degradation of AlGaN/GaN high electron mobility transistors under reverse bias

Mengehini, Matteo; Stocco, Antonio; Bertin, Marcon; Marcon, Denis; Chini, Alessandro; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico (2012-01)